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CCD參數(shù)介紹及發(fā)展史

來(lái)源:互聯(lián)網(wǎng) 發(fā)布時(shí)間:2008/12/22
     CCD發(fā)展簡(jiǎn)史
 
     CCD產(chǎn)品問(wèn)世已有30多年,從當(dāng)時(shí)的20萬(wàn)像素發(fā)展到目前的500—800萬(wàn)像素,無(wú)論其市場(chǎng)規(guī)模還是其應(yīng)用面,都得到了巨大的發(fā)展,可以說(shuō)是在平穩(wěn)中逐步提高,特別是近幾年來(lái),在消費(fèi)領(lǐng)域中的應(yīng)用發(fā)展速度更快。由于CCD的技術(shù)生產(chǎn)工藝復(fù)雜,目前業(yè)界只有索尼、飛利浦、柯達(dá)、松下、富士和夏普6家廠(chǎng)商可以批量生產(chǎn),而其中最主要的供商應(yīng)是索尼,飛利浦和柯達(dá),其中,在各廠(chǎng)商市占率方面,索尼以50%的市占率,成為市場(chǎng)領(lǐng)導(dǎo)廠(chǎng)商。索尼從70年代研發(fā)CCD以來(lái),即將其廣泛運(yùn)用在攝錄放影機(jī)及廣播電視等專(zhuān)業(yè)用攝影機(jī)等器材上,目前索尼的研發(fā)水平仍是領(lǐng)先于其它公司之上目前的CCD組件,每一個(gè)像素的面積和開(kāi)發(fā)初期比較起來(lái),己縮小到1/10以下。今后在應(yīng)用產(chǎn)品趨向小型化,高像素的要求下,單位面積將會(huì)更加的縮小。在小型化的同時(shí),利用各種新開(kāi)發(fā)的技術(shù),使其感光度不會(huì)因?yàn)閱挝幻娣e縮小而受到影響,也同時(shí)要求其性能維持或向上提升。以下是索尼公司按年代劃分而發(fā)展的CCD傳感器簡(jiǎn)介:
 
     1、HAD感測(cè)器
 
     HAD(HOLE-ACCUMULATION DIODE)傳感器是在N型基板,P型,N+2極體的表面上,加上正孔蓄積層,這是SONY獨(dú)特的構(gòu)造。由于設(shè)計(jì)了這層正孔蓄積層,可以使感測(cè)器表面常有的暗電流問(wèn)題獲得解決。另外,在N型基板上設(shè)計(jì)電子可通過(guò)的垂直型隧道,使得開(kāi)口率提高,換句換說(shuō),也提高了感度。在80年代初期,索尼將其領(lǐng)先使用在可變速電子快門(mén)產(chǎn)品中,在拍攝移動(dòng)快速的物體也可獲得清晰的圖象。
 
     2、ON-CHIP MICRO LENS
 

     80年代后期,因?yàn)镃CD中每一像素的縮小,將使得受光面積減少,感度也將變低。為改善這個(gè)問(wèn)題,索尼在每一感光二極管前裝上微小鏡片,使用微小鏡片后,感光面積不再因?yàn)楦袦y(cè)器的開(kāi)口面積而決定,而是以微小鏡片的表面積來(lái)決定。所以在規(guī)格上提高了開(kāi)口率,也使感亮度因此大幅提升。
 
     3、SUPER HAD CCD
 
     進(jìn)入90年代后期以來(lái),CCD的單位面積也越來(lái)越小,1989年開(kāi)發(fā)的微小鏡片技術(shù),已經(jīng)無(wú)法再提升感亮度,如果將CCD組件內(nèi)部放大器的放大倍率提升,將會(huì)使雜訊也被提高,畫(huà)質(zhì)會(huì)受到明顯的影響。索尼在CCD技術(shù)的研發(fā)上又更進(jìn)一步,將以前使用微小鏡片的技術(shù)改良,提升光利用率,開(kāi)發(fā)將鏡片的形狀最優(yōu)化技術(shù),即索尼 SUPER HAD CCD技術(shù)。基本上是以提升光利用效率來(lái)提升感亮度的設(shè)計(jì),這也為目前的CCD基本技術(shù)奠定了基礎(chǔ)。
 
     4、NEW STRUCTURE CCD
 
     在攝影機(jī)的光學(xué)鏡頭的光圈F值不斷的提升下,進(jìn)入到攝影機(jī)內(nèi)的斜光就越來(lái)越多,使得入射到CCD組件的光無(wú)法百分之百的被聚焦到感測(cè)器上,而CCD感測(cè)器的感度將會(huì)降低。1998年索尼公司為改善這個(gè)問(wèn)題,將彩色濾光片和遮光膜之間再加上一層內(nèi)部的鏡片。加上這層鏡片后可以改善內(nèi)部的光路,使斜光也可以被聚焦到感光器。而且同時(shí)將硅基板和電極間的絕緣層薄膜化,讓會(huì)造成垂直CCD畫(huà)面雜訊的訊號(hào)不會(huì)進(jìn)入,使SMEAR特性改善。
 
     5、EXVIEW HAD CCD
 

     比可視光波長(zhǎng)更長(zhǎng)的紅外線(xiàn)光,也可以在半導(dǎo)體硅芯片內(nèi)做光電變換??墒侵廉?dāng)前為止,CCD無(wú)法將這些光電變換后的電荷,以有效的方法收集到感測(cè)器內(nèi)。為此,索尼在1998年新開(kāi)發(fā)的“EXVIEW HAD CCD”技術(shù)就可以將以前未能有效利用的近紅外線(xiàn)光,有效轉(zhuǎn)換成為映像資料而用。使得可視光范圍擴(kuò)充到紅外線(xiàn),讓感亮度能
 
     大幅提高。利用“EXVIEW H
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[!--empirenews.page--]AD CCD”組件時(shí),在黑暗的環(huán)境下也可得到高亮度的照片。而且之前在硅晶板深層中做的光電變換時(shí),會(huì)漏出到垂直CCD部分的SMEAR成分,也可被收集到傳感器內(nèi),所以影響畫(huà)質(zhì)的雜訊也會(huì)大幅降低。
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